led高低溫沖擊試驗(yàn)箱/溫度沖擊實(shí)驗(yàn)箱

供應(yīng)數(shù)量：692
有效日期：2024/12/7
更新時(shí)間：2024/6/6
訪問量：692

產(chǎn)品分類

詳細(xì)介紹

led高低溫沖擊試驗(yàn)箱/溫度沖擊實(shí)驗(yàn)箱主要適合用于電工電子電器機(jī)械等零組件、自動化零部件、防工業(yè)行業(yè)、航天研究所、兵工業(yè)、通訊產(chǎn)品或組件、汽車成品或配件、金屬材料、化學(xué)材料、五金塑料、LED、LCD光電、光伏、照明、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對冷、熱溫的快速反復(fù)抵抗力及工業(yè)產(chǎn)品處于熱脹冷縮的環(huán)境時(shí)所出現(xiàn)的化學(xué)變化或者物理傷害，可確認(rèn)工業(yè)產(chǎn)品的質(zhì)量,從的IC到重機(jī)械的組件，可作為工業(yè)行業(yè)眾多產(chǎn)品改進(jìn)品質(zhì)的依據(jù)或參考。以便考核產(chǎn)品的適應(yīng)性或?qū)y試產(chǎn)品的行為作出評價(jià)。是新產(chǎn)品研發(fā)、樣機(jī)實(shí)驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)過程*的重要試驗(yàn)手段。

led高低溫沖擊試驗(yàn)箱/溫度沖擊實(shí)驗(yàn)箱的型號與簡易參數(shù)：

沖擊試驗(yàn)箱型號			AP-CJ-80	AP-CJ-150	AP-CJ-250	AP-CJ-480
內(nèi)箱尺寸			50×40×40	60×50×50	70×60×60	80×80×75
外箱尺寸約（以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)）			161×178×166	183×178×188	192×205×200	202×225×215
高箱儲存箱預(yù)熱溫度范圍			-60℃～+200℃
低溫儲存箱預(yù)冷溫度范圍			-10℃～-55℃；-10℃～-65℃；-10℃～-75℃；
測試塑料產(chǎn)品可選擇溫度范圍			高溫：RT～+150℃
			低溫：RT～-40℃；RT～-55℃；RT～-65℃；
性能	溫度穩(wěn)定度		±2℃
	移動與歸復(fù)時(shí)間		移動時(shí)間約10秒鐘，恢復(fù)時(shí)間約3~5 min
	高箱儲存箱升溫時(shí)間	℃	150	150	150	150
		min	40	40	40	40
	高箱儲存箱降溫時(shí)間	℃	-55 -65 -75	-55 -65 -75	-55 -65 -75	-55 -65 -75
		min	70 80 90	80 90 100	90 100 110	100 110 120

滿足的標(biāo)準(zhǔn)有以下:
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備;GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則;GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則