當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 > 沖擊箱 > 2AP-CJ-150B82箱高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
簡(jiǎn)要描述:2箱高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)用于電工電子電器機(jī)械等零組件、自動(dòng)化零部件、國(guó)防工業(yè)行業(yè)、航空航天研究所、兵工業(yè)、通訊產(chǎn)品或組件、汽車(chē)成品或配件、金屬材料、化學(xué)材料、五金塑膠、LED、LCD光電、光伏、照明、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)冷、熱溫的快速反復(fù)抵抗力及工業(yè)產(chǎn)品處于熱脹冷縮的環(huán)境時(shí)所出現(xiàn)的化學(xué)變化或者物理傷害。
詳細(xì)介紹
品牌 | 愛(ài)佩科技 | 分類(lèi) | 沖擊試驗(yàn)箱 |
---|---|---|---|
內(nèi)箱材質(zhì) | 不銹鋼 | 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
2箱高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)用于電工電子電器機(jī)械等零組件、自動(dòng)化零部件、國(guó)防工業(yè)行業(yè)、航空航天研究所、兵工業(yè)、通訊產(chǎn)品或組件、汽車(chē)成品或配件、金屬材料、化學(xué)材料、五金塑膠、LED、LCD光電、光伏、照明、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)冷、熱溫的快速反復(fù)抵抗力及工業(yè)產(chǎn)品處于熱脹冷縮的環(huán)境時(shí)所出現(xiàn)的化學(xué)變化或者物理傷害,可確認(rèn)工業(yè)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的組件,可作為工業(yè)行業(yè)眾多產(chǎn)品改進(jìn)質(zhì)量的依據(jù)或參考。以便考核產(chǎn)品的適應(yīng)性或?qū)y(cè)試產(chǎn)品的行為作出評(píng)價(jià)。是新產(chǎn)品研發(fā)、樣機(jī)實(shí)驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過(guò)程的重要試驗(yàn)手段。
2箱高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù):
內(nèi)箱尺寸:35×35×40cm;50×40×40cm;60×40×60cm;60×50×50cm;70×60×60cm;
測(cè)試設(shè)備可選擇的沖擊溫度有:A: -40℃~150℃; B:-55℃~150℃;C:-65℃~150℃
高溫儲(chǔ)存槽溫度范圍:RT~180℃或RT~200℃
低溫儲(chǔ)存槽溫度范圍:RT~-55℃;RT~-65℃;RT~-75℃(根據(jù)測(cè)試溫度而定)
高溫儲(chǔ)存槽升溫時(shí)間:RT-200℃約需30分鐘
降溫時(shí)間:RT~-75℃約需40分鐘(根據(jù)尺寸大小跟實(shí)際測(cè)試溫度有影響)
冷熱沖擊測(cè)試可設(shè)定時(shí)間:0.1~999.9小時(shí),循環(huán)周期1~9999可設(shè)定.
沖擊恢復(fù)時(shí)間:高溫(80℃)沖擊30分鐘,低溫(-40℃)沖擊30分鐘;沖擊恢復(fù)時(shí)間:5分鐘以內(nèi).
結(jié)構(gòu)材質(zhì):整臺(tái)測(cè)試設(shè)備為SUS304不銹鋼板霧面處理,內(nèi)箱均為SUS#304不銹鋼,配件:測(cè)試孔(φ50×1只),試料架(2組)。
冷凍系統(tǒng):復(fù)疊水冷式半密閉式壓縮機(jī)組
控制器:大型LED彩色觸控人機(jī)界面控制器or單顯LED觸控人機(jī)界面控制器.
冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備必配的安全保護(hù)裝置:超壓、加熱干燒無(wú)熔絲超載保護(hù)器,壓縮機(jī)過(guò)熱、過(guò)流、、箱內(nèi)超溫警報(bào)系統(tǒng).
試驗(yàn)流程:
1.預(yù)處理:將被測(cè)樣品放置在正常的試驗(yàn)大氣條件下,直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。
2.初始檢測(cè):將被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)照,符合要求后直接放入高低溫沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)即可。
3.試驗(yàn):
1)試驗(yàn)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi),并將試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度升到點(diǎn),保持的時(shí)間至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,以時(shí)間長(zhǎng)都為準(zhǔn)。
2)高溫階段結(jié)束后,在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi),保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,以時(shí)間長(zhǎng)都為準(zhǔn)。
3)低溫階段結(jié)束后,在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi),保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,以時(shí)間長(zhǎng)都為準(zhǔn)。
4)重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法,以完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小,時(shí)間可能會(huì)略有誤差。
4. 恢復(fù):試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱內(nèi)取出后,應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù),直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。
5.檢測(cè):對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測(cè)結(jié)果評(píng)定。
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