兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱

兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于電子電器零組件塑膠等行業(yè)、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè)，防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理性變化進(jìn)行試驗(yàn),用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理變化。

兩箱式特點(diǎn)

二箱設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)二部分，測(cè)試產(chǎn)品置于提籃中, 沖擊時(shí)提籃將測(cè)試產(chǎn)品移進(jìn)高溫區(qū)或低溫區(qū)進(jìn)行衡擊,測(cè)試產(chǎn)品為動(dòng)態(tài)式。 

二箱移動(dòng)式冷熱沖擊，安全的氣壓驅(qū)動(dòng)測(cè)試物上下來(lái)回沖擊。

采日制彩色觸控LCD中/英文微電腦溫度控制器。

無(wú)紙式記錄功能，具實(shí)時(shí)顯示溫度沖擊試驗(yàn)變化之曲線(xiàn)圖及記錄雙重功能。

冷熱沖擊機(jī)構(gòu)移動(dòng)時(shí)間在10秒內(nèi)，可符合MIL，LEC，JIS等規(guī)范。

冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間在5分鐘內(nèi)，可符合相關(guān)試驗(yàn)規(guī)范。

采用HFC環(huán)保冷媒，二元超低溫冷凍系統(tǒng)設(shè)計(jì)，降溫快、效率高。

兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

內(nèi)容積：150L

內(nèi)箱尺寸：500*600*500mm   (W* H *D)

外型尺寸(約)：1550*2050*2350mm （W* H *D）

重 量：約850㎏

測(cè)試室溫度范圍：-65℃～+150 ℃ (水冷式)

低溫沖擊范圍：-10℃～-65 ℃  （任意可調(diào)）

高溫沖擊范圍：60℃～150 ℃  （任意可調(diào)）

預(yù)熱溫度范圍：RT～+195℃

升溫時(shí)間：+50℃→+195℃ ≤40min注：升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

預(yù)冷溫度范圍：RT～-75℃

降溫時(shí)間：+20℃ → -75℃≤約90min注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能