高低溫循環(huán)濕熱交變?cè)囼?yàn)箱

高低溫循環(huán)濕熱交變?cè)囼?yàn)箱是用于工業(yè)產(chǎn)品做恒溫恒濕試驗(yàn)、實(shí)驗(yàn)或者測(cè)試用，常用于航天太空、防工業(yè)、自動(dòng)車(chē)部品、塑化工業(yè)、光纖、密電感、晶體、PCB、LED、LCD電子零組件、食品業(yè)、半導(dǎo)體電腦周邊組件及各相關(guān)產(chǎn)品之研發(fā)、品質(zhì)管理工程之測(cè)試規(guī)范。

高低溫循環(huán)濕熱交變?cè)囼?yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

溫度范圍：-70℃～+150℃（此范圍段可任意選擇）

濕度范圍：20 %～98 % RH

降溫速率：(空載)約1℃/min

升溫速率：(空載)約3℃/min

溫度穩(wěn)定度：±0.5℃

溫度均勻度：±2.0℃

濕度均勻度：≤±3%R.H（+2、-3%RH）

滿足標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；GB/T 10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備；GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備；GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；

我司還生產(chǎn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、高低溫沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、紫外老化試驗(yàn)箱、氙燈老化試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)箱、砂塵試驗(yàn)箱、電磁式振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)、鹽水噴霧試驗(yàn)箱、蒸汽老化試驗(yàn)箱、步入式恒溫恒濕房、快速溫變?cè)囼?yàn)箱、跌落試驗(yàn)機(jī)、拉力試驗(yàn)機(jī)、工業(yè)烘烤箱等各種環(huán)境模擬設(shè)備，歡迎廣大顧客前來(lái)咨詢。