芯片高低溫測(cè)試箱

芯片高低溫測(cè)試箱主要為工業(yè)材料、半成品、成品在研發(fā)、生產(chǎn)和檢驗(yàn)各環(huán)節(jié)的試驗(yàn)提供恒定溫?zé)?、交變溫?zé)?、?fù)雜高低溫交變等試驗(yàn)環(huán)境和試驗(yàn)條件，適用于電子零部件、電子產(chǎn)品、家電、光電、電器、化工、通訊、五金、橡膠、衛(wèi)浴、安防、玩具、LED等眾多行業(yè)并沒(méi)有*例出來(lái)。

芯片高低溫測(cè)試箱采用溫度儀表，7寸高清真彩液晶觸摸顯示屏，熒幕操作簡(jiǎn)單，程序編輯容易，無(wú)須按鍵輸入，屏幕直接觸摸選項(xiàng)。（TEMI880儀表）控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇，實(shí)時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示。資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機(jī)。具有100組程序1000段999循環(huán)步驟的容量，每段時(shí)間設(shè)定值為99小時(shí)59分。具有RS-232通訊界面，可在電腦上設(shè)計(jì)程序，監(jiān)視試驗(yàn)過(guò)程并執(zhí)行自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī)等功能。具有自動(dòng)演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為*確穩(wěn)定。大型觀測(cè)視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且采用雙層玻璃，隨時(shí)清晰的觀測(cè)箱內(nèi)狀況。設(shè)有獨(dú)立限溫報(bào)警系統(tǒng)，超過(guò)限制溫度即自動(dòng)中斷，保證實(shí)驗(yàn)安全運(yùn)行不發(fā)生意外。箱體左側(cè)配直徑50mm的測(cè)試孔。溫度范圍用戶可選擇：D:-70~150℃；C:-40℃~150℃；B:-20~150℃；A:0℃~150℃；容積是寬高深相乘得出的，所以顧客要選擇好尺寸大?。?/span>愛(ài)佩標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)箱尺寸大小有寬400mm*高500mm*深400mm；寬500mm*高600mm*深500mm；寬500mm*高750mm*深600mm；寬600mm*高850mm*深800mm；寬1000mm*高1000mm*深800mm；寬1000mm*高1000mm*深1000mm供大家選擇，如果以上尺寸都滿足不了請(qǐng)把要求提出來(lái)讓我司工程人員為大家非標(biāo)定制。