可編程恒溫恒濕試驗(yàn)箱

可編程恒溫恒濕試驗(yàn)箱是提供給廠(chǎng)家、企業(yè)、學(xué)校、研究所、計(jì)量院等單位的實(shí)驗(yàn)室用于給工業(yè)產(chǎn)品做人工模擬環(huán)境恒溫恒濕做可靠性試驗(yàn)或?qū)嶒?yàn)用。平時(shí)也叫恒溫恒濕試驗(yàn)箱、可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱等別稱(chēng)。此款設(shè)備比其它加濕設(shè)備的度要求要高、波動(dòng)度要小于正負(fù)0.5攝氏度才符合標(biāo)準(zhǔn)及要求。而且會(huì)用到制冷系統(tǒng)平衡出力加強(qiáng)穩(wěn)定恒溫恒濕效果。

廣東愛(ài)佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司是生產(chǎn)實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕設(shè)備的直銷(xiāo)廠(chǎng)家，本公司生產(chǎn)的恒溫恒濕設(shè)備適合任何實(shí)驗(yàn)室使用。愛(ài)佩的可編程恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿(mǎn)足GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ZAD:溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)；GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備；GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備；GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；GB/T 2423.3-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法；GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法；GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db: 交變濕熱(12h+12h循環(huán))；GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；GB/T 10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；MIL-STD810D方法502.2 用標(biāo)準(zhǔn)；GJB 150.9-1986 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)；IEC 68-2-1-1990 中文名稱(chēng): 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)等標(biāo)準(zhǔn)。