電子廠大型高溫老化試驗(yàn)房

電子廠大型高溫老化試驗(yàn)房  高低溫恒溫試驗(yàn)室是參照GB/T10589-2008低溫試驗(yàn)箱相應(yīng)技術(shù)條件、GB/T 11158-2008高溫試驗(yàn)箱相應(yīng)技術(shù)條件、GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱相應(yīng)技術(shù)條件相應(yīng)技術(shù)條件制造，主要為航天、石油、化工、軍事、電子、汽車(chē)（摩托車(chē)）、船舶、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫度變化環(huán)境，供用戶對(duì)整機(jī)（或部件）、電器、儀器、材料等作溫度試驗(yàn)，以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u(píng)價(jià)。暴露產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)過(guò)程*的重要試驗(yàn)手段。

電子廠大型高溫老化試驗(yàn)房 技術(shù)參數(shù):

由于老化房具有的復(fù)雜性、隨著產(chǎn)品對(duì)老化房要求的不斷提高，管理的任務(wù)日益繁重。所以，在設(shè)計(jì)過(guò)程中，必須考慮到以后的管理性，如：?jiǎn)蝹€(gè)負(fù)載的可拆除性，負(fù)載量的可調(diào)性，電力系統(tǒng)的可擴(kuò)充性，控制系統(tǒng)的集成性，對(duì)于高溫老化實(shí)驗(yàn)室的管理實(shí)行人性化的設(shè)計(jì)。